7月16日至18日，中国电子学会可靠性分会第二十七届可靠性物理年会在青海西宁举办。本次大会由中国电子学会可靠性分会、电子元器件可靠性技术全国重点实验室联合主办。

大会以“面向未来的可靠性物理技术”为主题，设置主论坛报告和分会场报告两个环节。会议邀请了中国电子学会可靠性分会副主任委员、北京航空航天大学可靠性与系统工程学院副院长陈云霞，西安电子科技大学微电子学院院长兼集成电路学部副主任郑雪峰，电子元器件可靠性技术全国重点实验室副主任陈义强，中国科学院国家空间科学中心天气效应中心主任马英起等业内知名专家，围绕数字化、智能化、绿色化时代背景下的可靠性/安全性/测试性/保障性及故障诊断等领域前沿技术，分享理论最新方法，交流技术最佳实践。

大会共遴选出8篇学术论文进行分会场报告，为与会代表带来可靠性前沿技术及展望、失效模式及失效机理、可靠性/环境适应性试验与评价、可靠性设计与仿真试验、安全性/测试性/保障性及故障诊断、工艺可靠性与稳健性设计等领域的最新科研成果。

本次大会吸引来自学术界、工业界和政府机构的百余名专家学者、行业精英、工程技术人员和在校学生参会。

中国电子学会 供稿